2025/06/13 Fri. 14:00 pm-16:00 pm
Meeting Room, Fourth Floor, TICNN, Tianjin University
培训内容将从Park Systems AFM的硬件与软件架构出发，深入介绍设备的关键组件（如扫描头、激光对焦系统和隔振平台）及其功能。随后，将讲解AFM成像原理、闭环扫描反馈机制，并与光学显微镜和扫描电子显微镜进行对比，帮助大家理解不同型式的显微镜各自的优势与局限。此外，讲座将重点介绍Park独有的True Non-Contact™（NCM）模式的成像原理及其在材料表征中的优势，并比较NCM与传统接触模式（Contact Mode）在探针选择和应用中的不同。培训还将涵盖常规AFM样品的制备与装载方法、测试参数设定技巧、数据处理与展平（使用XEI分析软件）、以及对异常测试结果的分析与优化建议。最后，将结合实际案例，分享AFM在表面形貌测量、纳米力学、电学性能等方面的典型应用场景，帮助师生更好地将AFM技术应用于科研工作中。
| 潘涛是资深AFM应用工程师，在AFM领域工作超过八年，具有丰富的AFM的样品测试经验。长期从事测量力学性能的纳米尺度表征，加入帕克（Park）公司后，主要从事原子力显微镜在计量领域的相关应用。 |
